Equipements

Appareils du laboratoire MATEIS

Techniques de préparation

  • Métallisation or, alumine, carbone
  • Scie à fil
  • Découpe ultrasonore
  • Tripode
  • Polissage électrolytique
  • Polissage vibratoire
  • Ultramicrotomie à température ambiante
  • PIPS

Microscope optique : Zeiss axiophot travaillant en réflexion, transmission, lumière polarisée, etc.

Microscope électronique à balayage : Zeiss Supra 55VP équipé de :

  • Système de décontamination in situ (Evactron de XEI Scientific)
  • Analyse EDS (X-max SDD 80 mm² de Oxford Instruments)
  • EBSD (caméra Nordlys de Oxford Instruments)
  • Platine de traction in situ (Gatan)

Microscope électronique en transmission : JEOL 200CX équipé de

  • Caméra Orius (Gatan)
  • Porte-objets simple-tilt, double-tilt, tilt-rotation
  • Analyse EDS (xxx de Oxford Instruments)
     

Appareils du Centre Lyonnais de Microscopie (CLYM)

Microscope électronique à balayage environnemental (FEI ESEM XL-30 FEG)

  • Analyse EDS (X-max 50 mm² de Oxford Instruments)
  • Platine Peltier
  • Platines chauffantes (1000 et 1500°C)
  • Portoir Wet-STEM « maison »
  • Platine Peltier tomographique « maison »
  • Platine de traction
  • Platine de traction-chauffante « maison »
  • Micro-injecteur

Microscope électronique en transmission (JEOL 2010F)

  • Caméra Orius (Gatan)
  • Analyse EDS (X-max 80 mm² de Oxford Instruments)
  • Spectromètre de pertes d’énergie des électrons (DigiPEELS de Gatan)
  • Module STEM-HAADF
  • Porte-objets simple-tilt, double-tilt et froid (N2) JEOL, analytique Be double-tilt GATAN, nano-indentation NANOFACTORY, embout 'maison' pour tomographie simple-tilt +/-85°.

Microscope électronique en transmission environnemental (FEI Titan ETEM G2 80-300 kV)

  • Spectromètre de masse, plasma cleaner in situ
  • Module STEM-HAADF
  • Correction d’aberration sphérique type « objectif »
  • Porte-objets standard, tomographique, chauffants, double-tilts

Focused-ion beam (ZEISS NVision40, GEMIN SEM column, SII Ion Beam column)

  • Détecteur STEM basse tension
  • Manipulateur (Klocke)
  • EBSD : camera rapide Nordlys 2S, Oxford Instruments
  • EDS : SDD X-max 50 mm², Oxford Instruments
  • FIBICS : Système de balayage externe (FIB/SEM) à très haute résolution pour la nanopatterning et la 3D haute-résolution
  • FLOODGUN : compensateur de charges
  • GIS : C, W, SiOx, H2O, XeF2
  • Secondary Ion Detector